В микросхемах 3D V-NAND компания Samsung применила архитектуру «ловушки для заряда» (Charge Trap Flash, CTF). Применение CTF наряду с вертикальными каналами металлизации, которые соединяют многослойную стековую комбинацию из кристаллов флеш-памяти, позволило повысить не только надежность (в 2-10 раз) и плотность памяти (24 кристалла в одном стеке), но и скорость записи данных (в 2 раза). В отличие от выпускаемой сейчас памяти, в CTF отсутствует плавающий затвор.
Первые образцы микросхем памяти 3D V-NAND не отличаются рекордной емкостью – всего 128 Гбит (16 ГБ), но в обозримом будущем Samsung обещает микросхемы емкостью 1 Тбит (128 ГБ).
Контент сайту призначений для осіб віком від 21 року. Переглядаючи матеріали, ви підтверджуєте свою відповідність віковим обмеженням.
Cуб'єкт у сфері онлайн-медіа; ідентифікатор медіа - R40-06029.